不同环境因素对引压管腔动态特性影响

为了探索引压管腔在动态压力校准和使用中不同环境因素对动态特性的影响,推导了管腔传压模型和谐振频率关系式,确立了影响管腔动态特性的参数,包括静态压力、温度、气体介质等。采用引压管腔专用实验装置进行了不同环境参数状态的实验验证,结果表明:静态压力仅会影响管腔在谐振频率附近的输出,随着静态压力的增大而非线性增大,对动态特性并无明显改变;温度会改变管腔的谐振频率和动态特性,随着温度的升高,谐振频率增大但输出幅值随之减小;气体介质的不同会彻底改变管腔动态特性,主要取决于介质的声速。该研究为引压管腔在使用环境下数据的评价和数据修正上提供了一定参考依据。     

基于DS算法的混胺燃料近红外光谱分析模型传递

对混胺燃料的近红外光谱分析模型的传递方法进行研究。采用 K/S(Kennard/Stone)算法选择转换集样品,采摘用直接校正(Direct Standardization,DS)算法对从仪器采集的光谱进行校正。通过光谱平均差异(ARMS)比较奇异值分解(Singular Value Decomposition,SVD)算法和偏最小二乘法(Partial Least Squares,PLS)对光谱校正的效果。当 PLS算法的最佳主因子数为 3时,DS-PLS算法的光谱校正率可达到 97.5%,优于 DS-SVD算法。混胺样品的分析模型经过 DS-PLS算法传递后,对从仪器的混胺样品各项指标的预测标准偏差(SEP)明显好于传递前,与主仪器预测效果接近,说明采用 K/S算法选择合适的转换集样品后,通过 DS-PLS模型传递算法可有效降低仪器间的光谱差异,实现近红外光谱分析模型在各台光谱仪之间共享。     

集成式随动装置目标引导信息动态校准方法研究

光电对抗系统在机动状态下搜索和跟踪目标时，必须用位置陀螺代替码盘来确定目标方位角。但是，由于搜索轴陀螺存在漂移和累积误差，导致跟踪转台按照引导信息调转到位后目标无法进入跟踪视场，而且陀螺的漂移和累积误差是随时间和温度非线性变化的，很难直接进行修正。为了解决这个问题，提出了一种对引导信息进行间接动态校准的方法。     

用于直升机现场计量的低频振动校准技术

本文面向直升机健康与使用监测系统(HUMS)的现场计量保障需求,针对其中振动传感器在低频段尚无法实现现场校准的现状,提出了基于直线电机驱动技术的便携式低频振动校准技术方案。该方案利用高精度直线电机构造低频标准振动源,采用稳定性高的石英挠性加速度计作为标准加速度计,具有体积小、精度高、现场环境适应性好的特点,非常适用直升机HUMS的现场计量保障。根据不确定度评估结果,该方案能够实现0.5Hz～20Hz频率范围,0.01m/s~2～20m/s~2加速度范围内不超过1%的校准不确定度(k=2)。     

数字化组合式大力值校准系统的研制

为了满足对大力值(20 MN左右)的测量和校准,开发了一套数字化组合式大力值校准装置。其最大量程可达24 MN,系统测量准确度为0.1%,适合于大型材料试验机的校准和检定。本文详细介绍了装置的组成结构、弹性体设计、贴片和组桥方式、数字化的方法以及与计算机的通信实现。     

共形光学系统设计研究

共形光学整流罩在保证了光学指标的前提下,与后端的其他结构外形轮廓平滑连接,从而提高了飞行器空气动力学的性能,在航空航天领域具有重要的应用价值。然而,采用特殊面型的整流罩给共形光学系统的像差校正以及加工、检测方面带来了极大的挑战。本文首先分析了共形整流罩像差特性,并在此基础上介绍了两种典型的光学设计。     

相变光盘多层膜系结构的最佳光匹配研究

论述了相变光盘最佳膜系结构的设计。采用导纳矩阵法计算膜系的能量反射率，用量优化计算方法编程计算，提出了第二大极值解作为在工艺上可行的实用光盘的膜系结构，并按这种膜系结构制作样品，其擦写循环数达１００万次上。     

二级轻气炮弹丸速度、质量和位置测量

二级轻气炮发射的氘冰弹丸的速度、质量和显示弹丸完整性的方法和所使用的仪器以及新开发的以波长编码、用光纤为传感器的弹丸进入位置的测量方法。     

振动传感器的微加速度动态校准

阐述了高灵敏度振动传感器在超低频微小加速度下进行动态校准的校准装置工作原理、校准方法 ,分析了其校准不确定度。该装置采用曲率半径为 10m的虚拟摆结构 ,从较强的环境干扰噪声中利用数字滤波技术成功地拾检微弱振动信号 ,使微小标准加速度获得复现。该装置可在 (0 .0 0 1～ 0 .1)Hz超低频率范围内和 (1× 10 -6～ 1× 10 -2 )m s2 微小加速度范围内实现高准确度激光绝对校准和比较法校准 ,其校准不确定度达 0 .5%。     

光学基片表面软质抛光胶体粒子的激光清洗

介绍了光学基片表面软质抛光胶体粒子激光清洗的基本方法、原理和实验装置,并通过对含有污染微粒的基片表面进行激光清洗,获得了高洁净表面的光学基片.